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Edinburgh荧光光度计代理商 北京泰科施普

发布日期 :2022-10-22 12:38发布IP:123.58.44.124编号:10694887
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荧光光谱仪具的优点

1、分析速度高。测定用的时间与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化的测定。3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,Edinburgh荧光光度计代理商,也不会出现试样飞散现象。同一式样可反复多次测量,结果重现性好。4、X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。5、分析精密度高。6、制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。







荧光光谱仪

随着科学技术的进步,在60年代初发明了半导体探测器以后,对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)直接进入半导体探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析。

  由于普通能量色散X荧光采用低功率X射线管,Edinburgh荧光光度计代理,又采用滤光片扣除背景和干扰,其背景偏高,分辨率偏小,使得应用范围受到限制,邯郸Edinburgh荧光光度计,特别是在轻元素的分析受到限制。随之X射线偏振器的诞生,产生了一款新型的能量色散X荧光光谱仪,既偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF,再加上SDD探测器的使用,不仅提高了(相对使用正比计数管和Si(PIN)探测器的仪器)的分辨率,免去Si(Li)探测器使用液氮冷却的繁琐和危险,填补了原来普通能量色散X荧光的轻元素检出限高,分辨率差的缺陷,又使得(相对波长色散X荧光用户)购买和使用X荧光仪器的成本大大减低,这使得偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF在分析领域的迅猛发展,越来越受到广泛关注。



原子荧光光谱法

原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度,来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后,原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s,又跃迁至基态或低能级,Edinburgh荧光光度计报价,同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射,称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、阶跃荧光等。发射的荧光强度和原子化器中单位体积该元素基态原子数成正比,式中:I f为荧光强度;φ为荧光效率,表示单位时间内发射荧光光子数与吸收激发光光子数的比值,一般小于1;Io为激发光强度;A为荧光照射在检测器上的有效面积;L为吸收光程长度;ε为峰值摩尔吸光系数;N为单位体积内的基态原子数。原子荧光发射中,由于部分能量转变成热能或其他形式能量,使荧光强度减少甚至消失,该现象称为荧光猝灭。




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